Ein neues Hochleistungsgerät zur Herstellung feinster Nanostrukturen und von elektronenmikroskopischen Präparaten mit atomarer Präzision ist im Zentrum für Nanotechnologie (CeNTech) an der WWU Münster in Betrieb genommen worden. Das "Focussed Ion Beam-System" (FIB) im Wert von über einer Million Euro ist gewissermaßen eine Art "Taschenmesser der Nanotechnologie".
Die Kombination von einem fast atomar feinen Ionenstrahl und hoch auflösender Rasterelektronenmikroskopie lässt eine Materialbearbeitung mit einer Präzision von nur wenigen Nanometern zu und kann noch während des Bearbeitungsprozesses mit Hilfe der Elektronenmikroskopie kontrolliert werden.
Die besonderen schwingungsgedämpften Böden im CeNTech-Gebäude an der münsterschen Heisenbergstraße sind für die vorgesehenen Arbeiten von besonderem Vorteil. Damit lassen sich sowohl metallische Strukturen mit Nanometerdimension direkt auf nahezu beliebigen Oberflächen abscheiden, als auch präzise Probenschnitte herstellen, die für die höchstauflösende Transmissionselektronenmikroskopie und für die Nanomaterialphysik unerlässlich sind.
Das neue Großgerät mit einem Beschaffungsvolumen von über einer Million Euro ist nach den Worten von Professor Harald Fuchs vom Physikalischen Institut gewissermaßen ein "Taschenmesser der Nanotechnologie" und das erste Gerät seiner Art in Münster. Bundesweit existierten nur wenige Systeme dieser Qualitätsklasse. Damit könne die Palette der Bearbeitungsmethoden von Materialien im Nanometerbereich im münsterschen Zentrum für Nanotechnologie entscheidend erweitert und verbessert werden.
(idw – Universität Münster, 14.12.2006 – DLO)
